Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz

ISO

ISO 6342:2003

ISO 6342:2003

Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания

Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания

Страниц 3

Язык Английский (Великобритания)

МКС 37.080

Разработчик TC 171/SC 2

Дата регистрации 24.07.2003

Действует с 24.07.2003

Здравствуйте! Я Айгерим — помогу с подбором стандартов.