ГОСТ Р

ГОСТ Р 57394-2017

Действующий

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Страниц 46

Язык Русский

МКС 31.080.01

Разработчик Открытое акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (ОАО «РНИИ «Электронстандарт»)

Дата регистрации 01.01.2018

Действует с 01.01.2018

Аннотация

Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации

Ключевые слова

интегральные микросхемы;полупроводниковые приборы;методы ускоренных испытаний на безотказность;кратковременные испытания;длительные испытания