Приборы фотоэлектрические. Часть 10. Методы определения линейности характеристик
Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические приборы и устанавливает процедуры, используемые для оценки степени линейности характеристик фотоэлектрического прибора. Настоящий стандарт устанавливает процедуры определения линейной зависимости какого-либо рабочего параметра фотоэлектрического прибора от одного из параметров условий его функционирования. В основном этот стандарт предназначен для использования производителями приборов и разработчиками систем в калибровочных лабораториях. Оценки рабочих характеристик фотоэлектрических приборов и систем, а также способы приведения этих характеристик от одного сочетания условий функционирования приборов (например, температуры и энергетической освещенности) к другому часто основаны на использовании линейных уравнений (см. МЭК 60891 и МЭК 61829). Для проведения испытаний фотоэлектрических приборов, как правило, необходимо, чтобы один или несколько параметров испытываемого образца и эталонного прибора имели линейную зависимость от изменения условий испытаний: изменения температуры или/и энергетической освещенности в диапазоне, в котором проводятся испытания. В настоящем стандарте устанавливаются требования, при выполнении которых характеристики приборов могут считаться линейными, и методы испытаний, которые обеспечивают достоверность результатов применения линейных уравнений. Косвенным образом требования настоящего стандарта определяют диапазоны изменения температуры и энергетической освещенности, в которых допустимо использование линейных уравнений. Настоящий стандарт применим ко всем фотоэлектрическим приборам и предназначен для проведения испытаний с образцом фотоэлектрического прибора или с аналогичным ему устройством, выполненным по идентичной технологии. Испытание двусторонних приборов может отличаться процедурой измерения температуры. Измерения температуры в этом случае должны проводиться по специальной методике. Может потребоваться использование соответствующих специальных средств измерения и эталонного прибора
