Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz
ISO

ISO 17862:2013

ISO 17862:2013
Действующий

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов

Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов

Страниц 32
Язык Английский (Великобритания)
МКС 71.040.40
Разработчик TC 201/SC 6
Дата регистрации 10.12.2013
Действует с 10.12.2013