ISO

ISO 27448:2009

Действующий

Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения эффективности самоочищения полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла смачивания

Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения эффективности самоочищения полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла смачивания

Страниц 14

Язык Английский (Великобритания)

МКС 81.060.30

Разработчик TC 206

Дата регистрации 02.07.2009

Действует с 02.07.2009

Здравствуйте! Я Айгерим — помогу с подбором стандартов.