Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz
ISO

ISO 24173:2009

ISO 24173:2009
Действующий

Микропучковый анализ. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции при обратном рассеянии электронов

Микропучковый анализ. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции при обратном рассеянии электронов

Страниц 50
Язык Английский (Великобритания)
МКС 71.040.50
Разработчик TC 202
Дата регистрации 14.09.2009
Действует с 14.09.2009