Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz
ISO

ISO 15732:2003

ISO 15732:2003
Действующий

Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения вязкости разрушения монолитной керамики при комнатной температуре с применением призматического образца с предварительно нанесенными трещинами по одной кромке (SEPB)

Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения вязкости разрушения монолитной керамики при комнатной температуре с применением призматического образца с предварительно нанесенными трещинами по одной кромке (SEPB)

Страниц 21
Язык Английский (Великобритания)
МКС 81.060.30
Разработчик TC 206
Дата регистрации 23.10.2003
Действует с 23.10.2003