ISO

ISO 23830:2008

Действующий

Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов

Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов

Страниц 20

Язык Английский (Великобритания)

МКС 71.040.40

Разработчик TC 201/SC 6

Дата регистрации 05.11.2008

Действует с 05.11.2008

Здравствуйте! Я Айгерим — помогу с подбором стандартов.