Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz
ISO

ISO 14706:2000

ISO 14706:2000
Действующий

Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии

Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии

Страниц 23
Язык Английский (Великобритания)
МКС 71.040.40
Разработчик TC 201
Дата регистрации 01.12.2000
Действует с 01.12.2000