Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz
ГОСТ Р

ГОСТ Р 8.659-2009

ГОСТ Р 8.659-2009
Действующий

Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений характеристик ультрафиолетового излучения при технологическом контроле в нанофотолитографии. Методика поверки

Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений характеристик ультрафиолетового излучения при технологическом контроле в нанофотолитографии. Методика поверки

Язык Русский
МКС 17.020
Разработчик Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
Дата регистрации 01.01.2011
Действует с 01.01.2011

Аннотация

Настоящий стандарт распространяется на средства измерений (СИ) характеристик ультрафиолетового (УФ) излучения, используемые при технологическом контроле в нанофотолитографии, и устанавливает методику их первичной и периодической поверок

Ключевые слова

энергетическая яркость;сила излучения;спектральная чувствительность;средства измерений;ультрафиолетовое излучение;нанофотолитография;синхротронное излучение