Астана, ул. Мәңгілік Ел, 11/1 +7 (7172) 57-43-21 info@ksm.kz
ISO

ISO 14606:2000

ISO 14606:2000
Действующий

Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве эталонных материалов

Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве эталонных материалов

Страниц 15
Язык Английский (Великобритания)
МКС 71.040.40
Разработчик Госстандарт России
Дата регистрации 01.10.2000
Действует с 01.10.2000