Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов (далее - приборы), и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 21 июня 1983 г. N 2607 срок действия установлен с 01.07.84 до 01.07.89*