Государственная система обеспечения единства измерений. Методика выполнения измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков из тонколистовых материалов в диапазоне частот от 9 до 10 ГГц
Настоящий стандарт распространяется на тоноклистовые твердые диэлектрические материалы толщиной от 0,5 до 2,5 мм с относительной диэлектрической проницаемостью эпсилон от 1,1 до 20 и тангенсом угла диэлектрических потерь tg сигма от 0,0001 до 0,01 и устанавливает резонансный метод определения эпсилон и tg сигма этих материалов в диапазоне частот от 9 до 10 ГГц
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 28 июня 1972 г. N 1308
