ГОСТ Р Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Атауы: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Белгілеу: ГОСТ Р 57394-2017

Санат: ГОСТ Р

МСЖ: 31.080.01

Беттер саны: 46

Әзірлеуші: Открытое акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (ОАО «РНИИ «Электронстандарт»)

Мәртебе: Нет статуса

Тіркелген күні: 01.01.2018

Қолданылу күні: 01.01.2018

Тіл: Русский

Кілт сөздер: интегральные микросхемы;полупроводниковые приборы;методы ускоренных испытаний на безотказность;кратковременные испытания;длительные испытания

Аннотация: Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации

ГОСТ Р 57394-2017. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность