СТ РК Бетін химиялық талдау. Сөздік. 2-бөлім. Зондпен сканирлейтін спектроскопияда пайдаланылатын терминдер. Енгізілген күні 2014.01.01 бастап

Наименование: Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондом спектроскопии. Дата введения с 2014.01.01

Обозначение: СТ РК ISO 18115-2-2012

Категория: СТ РК

МКС: 71.040.40

Количество страниц: 90

Разработчик: РГП "КазИнСт"

Статус: Действует

Дата регистрации: 01.01.2014

Дата действия с: 01.01.2014

Приказ: приказом Председателя Комитета технического регулирования и метрологии Министерства индустрии и новых технологий Республики Казахстан от 20.11.2012 г. № 549-од

Язык: Казахский +русский

Ключевые слова: атомно-силоваямикроскопияАСМ, химически-силоваямикроскопияХСМ, микроскопияпроводящего зонда атомной силы, тоннельная спектроскопия текущего отображения, I-V спектроскопия, микроскопия модуляции частоты атомной силы, магнетическаясила

Аннотация: Настоящийстандартраспространяетсянатерминыиопределениядляповерхностногохимическогоанализа, используемыевсканирующейзондовойспектроскопии.

Замененные: -

Заменяющие: -

Принадлежность к ТР ТС: -

Дата обновления: 05.02.2025

Открыть стандарт

ҚР СТ ISO 18115-2-2012. Бетін химиялық талдау. Сөздік. 2-бөлім. Зондпен сканирлейтін спектроскопияда пайдаланылатын терминдер. Енгізілген күні 2014.01.01 бастап