Наименование: Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии. Дата введения с 2014.01.01
Обозначение: СТ РК ISO 18115-1-2012
Категория: СТ РК
МКС: 71.040.40
Количество страниц: 216
Разработчик: РГП "КазИнСт"
Статус: Действует
Дата регистрации: 01.01.2014
Дата действия с: 01.01.2014
Приказ: приказом Председателя Комитета технического регулирования и метрологии Министерства индустрии и новых технологий Республики Казахстан от 20 ноября 2012 г. № 550-од.
Язык: Казахский +русский
Ключевые слова: анализ на пучках заряженных частиц, спектрометрия рассеяния ионов, спектрометрия рассеяния ионов низких энергий, спектроскопия потерь энергии электронов при геометрии отражения, радиочастота, растровый электронный микроскоп, вторично-ионная масс-спектрометрия,рентгенофлуоресцентная спектроскопия с полным отражением, Оже-электронная спектроскопия, десорбционная электрораспылительная ионизация
Аннотация: Настоящий стандарт устанавливает термины для химического анализа поверхности. В настоящей части рассматриваются общие термины и термины, используемые в спектроскопии.
Замененные: -
Заменяющие: -
Принадлежность к ТР ТС: -
Дата обновления: 05.02.2025
ҚР СТ ISO 18115-1-2012. Бетін химиялық талдау. Сөздік. 1-бөлім. Жалпы терминдер және спектроскопияда пайдаланылатын терминде. Енгізілген күні 2014.01.01 бастап
ГОСТ 58360-2019ГОСТ Р
ГОСТ Р 56731—2023ГОСТ Р
ГОСТ 42.4.18- 2025ГОСТ
ГОСТ Р 54923-2012ГОСТ Р