Наименование: Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки
Обозначение: СТ РК 2.192-2010
Категория: СТ РК
МКС: 17.020
Количество страниц: 32
Разработчик: РГП "КазИнМетр"
Статус: Действует
Дата регистрации: 01.07.2011
Дата действия с: 01.07.2011
Приказ: Приказом Председателя Комитета технического регулирования и метрологии Министерства индуст- рии и новых технологий Республики Казахстан от 6 октября 2010 г. № 442-од
Язык: Казахский +русский
Ключевые слова: сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы
Аннотация: Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы (далее — микроскопы), применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10-9 м до 10-6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок. Межповерочный интервал микроскопа — один год.
Дата обновления: 18.09.2023
ҚР СТ 2.192-2010. Сканерлеуші зондтық атомды-күштік өлшегіш микроскоптар. Салыстырып тексеру әістемесі
ГОСТ ISO 8909-3-2025ГОСТ