Наименование: ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
Обозначение: ГОСТ 8.591-2009
Категория: ГОСТ
МКС: 17.020
Количество страниц: 18
Разработчик: Российская Федерация
Статус: Действует
Дата регистрации: 01.10.2010
Дата действия с: 01.10.2010
Приказ: приказом Комитета технического регулирования и метрологии Министерства индустрии и новых технологий Республики Казахстан от 22 сентября 2010 г. № 423 -од непосредственно в качестве государственного стандарта Республики Казахстан с 01 октября 2010 г.
Язык: Русский
Аннотация: Устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10-9 до 10-6 м. Распространяетсяна рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных микроскопов
ГОСТ 8.591-2009. ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки
ГОСТ 11244-2018ГОСТ
ГОСТ Р 54923- 2012ГОСТ Р