Наименование: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методы и средства поверки
Обозначение: ГОСТ 8.003-2010
Категория: ГОСТ
МКС: 17.020
Количество страниц: 25
Разработчик: Российская Федерация
Статус: Действует
Дата регистрации: 01.08.2012
Дата действия с: 01.08.2012
Приказ: Приказом Комитета технического регулирования и метрологии от 15 августа 2012 г. № 396-од межгосударственный стандарт введен в действие в качестве национального стандарта 01.08.2012 г.
Язык: Русский
Ключевые слова: инструментальные микроскопы;поверка;погрешность измерений
Аннотация: Устанавливает методику первичной и периодической поверок инструментальных микроскопов по ГОСТ 8074. Распространяется на отечественные и импортные инструментальные микроскопы с характеристиками, аналогичными приведенным в ГОСТ 8074
Замененные: -
Заменяющие: -
Принадлежность к ТР ТС: -
Дата обновления: 02.07.2025
Текст обновления:
ГОСТ 8.003-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы инструментальные. Методы и средства поверки
ГОСТ EN 17131-2022ГОСТ
ГОСТ 11244-2018ГОСТ
ГОСТ Р 54923- 2012ГОСТ Р