ГОСТ Р Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Наименование: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017

Категория: ГОСТ Р

МКС: 31.080.01

Количество страниц: 46

Разработчик: Открытое акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (ОАО «РНИИ «Электронстандарт»)

Статус: Нет статуса

Дата регистрации: 01.01.2018

Дата действия с: 01.01.2018

Приказ: -

Язык: Русский

Аннотация: Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации

ГОСТ Р 57394-2017. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность